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  • Leeb452 表面粗糙度儀 表面光潔度儀 無(wú)錫粗糙度測(cè)試儀
    Leeb452 表面粗糙度儀 表面光潔度儀 無(wú)錫粗糙度測(cè)試儀

    Leeb452 表面粗糙度儀 表面光潔度儀 無(wú)錫粗糙度測(cè)試儀測(cè)量工件表面粗糙度時(shí),將傳感器放在工件被測(cè)表面上,由儀器內(nèi)部的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)傳感器沿被測(cè)表面做等速滑行,傳感器通過(guò)內(nèi)置的銳利觸針感受被測(cè)表面的粗糙度,此時(shí)工件被測(cè)表面的粗糙度引起觸針產(chǎn)生位移,該位移使傳感器電感線圈的電感量發(fā)生變化,從而在相敏整流器的輸出端產(chǎn)生與被測(cè)表面粗糙度成比例的模擬信號(hào),該信號(hào)經(jīng)過(guò)放大及電平轉(zhuǎn)換之后進(jìn)入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

    時(shí)間:2023-11-13型號(hào):
  • Leeb431表面粗糙度儀 光潔度儀  無(wú)錫粗糙度計(jì)
    Leeb431表面粗糙度儀 光潔度儀 無(wú)錫粗糙度計(jì)

    Leeb431表面粗糙度儀 光潔度儀 無(wú)錫粗糙度計(jì)傳感器通過(guò)內(nèi)置的銳利觸針感受被測(cè)表面的粗糙度,此時(shí)工件被測(cè)表面的粗糙度引起觸針產(chǎn)生位移,該位移使傳感器電感線圈的電感量發(fā)生變化,從而在相敏整流器的輸出端產(chǎn)生與被測(cè)表面粗糙度成比例的模擬信號(hào),該信號(hào)經(jīng)過(guò)放大及電平轉(zhuǎn)換之后進(jìn)入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。

    時(shí)間:2023-11-13型號(hào):
  • Leeb430數(shù)顯表面粗糙度儀 光潔度儀 粗糙度計(jì)
    Leeb430數(shù)顯表面粗糙度儀 光潔度儀 粗糙度計(jì)

    Leeb430數(shù)顯表面粗糙度儀 光潔度儀 粗糙度計(jì)輸出端產(chǎn)生與被測(cè)表面粗糙度成比例的模擬信號(hào),該信號(hào)經(jīng)過(guò)放大及電平轉(zhuǎn)換之后進(jìn)入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

    時(shí)間:2023-11-13型號(hào):
  • leeb451粗糙度儀表面 表面光潔度儀 粗糙度測(cè)試儀
    leeb451粗糙度儀表面 表面光潔度儀 粗糙度測(cè)試儀

    leeb451粗糙度儀表面 表面光潔度儀 粗糙度測(cè)試儀 測(cè)量范圍 Ra:0.05-10.0µm;Rz:0.1-50µm

    時(shí)間:2023-11-13型號(hào):
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